双球差校正透射电镜价格(双球差校正透射电镜什么时候有的)

导语：双球差校正透射电镜(FEI Themis Z)

双球差校正透射电镜

原位环境球差校正透射电镜(AC-ETEM)

FEI Themis Z

测试项目

电子衍射、衍衬像、高分辨像(HRTEM)扫描透射像(BF, HAADF-STEM)X射线能谱分析(EDS点、线、面分析)电子能量损失谱分析(EELS点、线、面分析)原位测试请咨询

测试样例

样例1：GaN样品沿[211]方向的原子分辨HAADF像（左）和钙钛矿氧化物沿[110]方向的原子分辨iDPC像

样例2：单原子（左）和纳米线（右）样品的原子分辨HAADF像

样例3：电子能量损失谱分辨率测量和实际样品的EELS谱

样例4：氧化物超晶格样品的原子分辨HAADF像和EELS元素分布图

仪器概要

FEI像差校正的 Themis Z 扫描透射电子显微镜 (STEM) 将经过验证的光学器件和全新的突破性 STEM 成像功能与增强的自动化软件相结合，为所有材料科学家提供极佳的成像性能。通过我们独特的 EDX 产品组合，Themis Z 在采用单一物镜配置的单一工具中提供最好的全原子表征数据。

技术参数

TEM信息分辨率：60 pm,300KV、100pm ,60KVSTEM暗场分辨率：60 pm,300KV、96pm,60KV加速电压：60 - 300kV可自由调节电子枪：配备单色器的超高亮度肖特基场发射电子枪加速电压：最高加速电压为300 kV配备物镜球差矫正用于提高HR-TEM分辨率配备聚光镜球差矫正用于提高HR-STEM分辨率EM分辨率：60 pm；STEM分辨率：60 pm能谱系统：无窗设计；有效探测面积大于120 平方毫米配备TEM/STEM/EDS三维重构系统配备idpc探测器，可实现轻元素成像配备电子全息系统和洛仑兹透镜

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