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旁路电容和去耦电容作用和区别(旁路电容去耦电容滤波电容)

导语:旁路和去藕电容-原理

退耦电容的选择和应用十说电容关于旁路电容和耦合电容关于旁路电容的深度对话

对于以上的文章,我是很佩服的,我按照它们的思路把问题推演和考证了一下,参考了一些数据,自己推导一下电容模型的阻抗曲线,试图做的就是让问题更明显一些。打算把这个问题分成两个部分,第一个就是原理上去验证,第二个就是从实际的例子去推演。各位看完有任何意见请留言。

先看看此类电容的应用场合:

根据以上电路来说,由一个电源驱动多个负载,如果没有加任何电容,每个负载的电流波动会直接影响某段导线上的电压。

瞬间冲击电流的产生原因

1.容性负载

来分析一下数字电路的电流波动,数字电路的负载并不是纯阻性的,如果负载电容比较大,数字电路驱动部分要把负载电容充电、放电,才能完成信号的跳变,在信号上升沿比较陡峭的时候,电流比较大,对于数字芯片来说,新派驱动部分电流会从电源线上吸收很大的电流,由于线路存在着的电感,电阻(特别是芯片管脚上的电感,会产生反弹),这种电流相对于正常情况来说实际上就是一种噪声,会影响前级的正常工作,下图反应了工作情况

2.输出级控制正负逻辑输出的管子短时间同时导通,产生瞬态尖峰电流

PMOS和NMOS同时导通的时候出现的电流尖峰。

电压塌陷噪声

我们考虑数字电路内部结构一般由两个Mos管组成,为了便于分析,我们假设初始时刻传输线上各点的电压和电流均为零。现在我们分析数字器件某时刻输出从低电平转变为高电平,这时候器件就需要从电源管脚吸收电流(上面一个分析的是容性负载,现在考虑的是阻性负载)。

从低到高(L=>H)

在时间点T1,高边的PMOS管导通,电流从PCB板上流入芯片的VCC管脚,流经封装电感L.vcc,通过PMOS管和负载电阻最后通过返回路径。电流在传输线网络上持续一个完整的返回时间,在时间点T2结束。之后整个传输线处于电荷充满状态,不需要额外流入电流来维持。

当电流瞬间涌过L.vcc时,将在芯片内部电源和PCB板上产生一个电压被拉低的扰动。该扰动在电源中被称之为同步开关噪声(SSN)或Delta I噪声。

从高到低(L=>H)

在时间点T3,我们首先关闭PMOS管(不会导致脉冲噪声,PMOS管一直处于导通状态且没有电流流过的)。同时我们打开NMOS管,这时传输线、地平面、L.gnd以及NMOS管形成一回路,有瞬间电流流过开关NMOS管,这样芯片内部至PCB地节点前处产生参考电平被抬高的扰动。该扰动在电源系统中被称之为地弹噪声(Ground Bounce)。

实际电源系统中存在芯片引脚、PCB走线、电源层、底层等任何互连线都存在一定电感值,就整个电源分布系统来说来说,这就是所谓的电源电压塌陷噪声。

去藕电容和旁路电容

去藕电容就是起到一个小电池的作用,满足电路中电流的变化,避免相互间的耦合干扰。关于这个的理解可以参考电源掉电,Bulk电容的计算,这是与之类似的。

旁路电容实际也是去藕合的,只是旁路电容一般是指高频噪声旁路,也就是给高频的开关噪声提高一条低阻抗泄防途径。

所以一般的旁路电容要比去藕电容小很多,根据不同的负载设计情况,去藕电容可能区别很大,当旁路电容一般变化不大。关于有一种说法“旁路是把输入信号中的干扰作为滤除对象,而去耦是把输出信号的干扰作为滤除对象,防止干扰信号返回电源”,我个人不太同意,因为高频信号干扰可以从输入耦合也可以从输出耦合,去藕的掉电可以是负载激增的输出信号也可以是输入信号源的突变,因此我个人觉得怎么区分有点纠结。

电容模型分析

如果电容是理想的电容,选用越大的电容当然越好了,因为越大电容越大,瞬时提供电量的能力越强,由此引起的电源轨道塌陷的值越低,电压值越稳定。但是,实际的电容并不是理想器件,因为材料、封装等方面的影响,具备有电感、电阻等附加特性;尤其是在高频环境中更表现的更像电感的电气特性。

我们这里使用的电容一般是指多层陶瓷电容器(MLCC),其最大的特点还是由于使用多层介质叠加的结构,高频时电感非常低,具有非常低的等效串联电阻,因此可以使用在高频和甚高频电路滤波无对手。

关于其特性分析和分类可以参考以前的文章:

Surface Mounted Capacitor(表贴电容) Ps:大部分是英文的,我有空把它翻译整理过来。

电容模型为

等效串联电阻ESR:由电容器的引脚电阻与电容器两个极板的等效电阻相串联构成的。当有大的交流电流通过电容器,ESR使电容器消耗能量(从而产生损耗),由此电容中常用用损耗因子表示该参数。

等效串联电感ESL:由电容器的引脚电感与电容器两个极板的等效电感串联构成的。

等效并联电阻EPR:电容器泄漏电阻,在交流耦合应用、存储应用(例如模拟积分器和采样保持器)以及当电容器用于高阻抗电路时,Rp是一项重要参数,理想电容器中的电荷应该只随外部电流变化。然而实际电容器中的EPR使电荷以RC时间常数决定的速度缓慢泄放。

通过上述参数,我们可以知道得到电容阻抗曲线

我找了Murata的电容做了对比

1000pF 0402

100nF 0603

实际电容的阻抗是如图所示的网络的阻抗特性,在频率较低的时候,呈现电容特性,即阻抗随频率的增加而降低,在某一点发生谐振,在这点电容的阻抗等于等效串联电阻ESR。在谐振点以上,由于ESL的作用,电容阻抗随着频率的升高而增加,这是电容呈现电感的阻抗特性。在谐振点以上,由于电容的阻抗增加,因此对高频噪声的旁路作用减弱,甚至消失。电容的谐振频率由ESL和C共同决定,电容值或电感值越大,则谐振频率越低,也就是电容的高频滤波效果越差。

ESL首先和电容的封装直接相关的,封装越大,ESL也越大。因此我们并联三个电容以上对于滤除噪声来说并不是很明显的。这里有个问题,我们甚至希望可以得到0402的0.1uF的电容,但是这个是比较难得,因为封装越小,操作电压和容值都是有限制的,所以理智的做法就是用两个电容。

通过曲线我们发现,如果我们只是考虑1MHz以内的噪声的时候,在大多数情况下,旁路电容的规则可以简化为只用0.1 μF电容旁路每一个芯片。不过我们要选择0603的MLCC的电容,而且要注意电路布局。如果我们沿着电路板上的电流路线,可以发现电路板铜线上存在电感。在任何电流路径上的电感与该路径的闭环面积呈正比。因此,当你围绕一个区域对元器件进行布局时,你需要把元器件紧凑地布局(为了使电感为最低)。

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