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xps表征全称

xps表征全称为:X射线光电子能谱,是X-ray photoelectron spectroscopy的缩写。该技术主要利用X射线激发固体表面原子中的电子,通过测量电子发射的能量和角度等信息分析表面化学成分、化学键状态及其化学环境。