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开关电容采样系统中的热噪声以及过采样如何影响热噪声
开关电容采样kT/C噪声和一阶RC kT/C噪声的区分
最初学习噪声时,首先学到的是,一阶RC电路中输出端的总积分噪声(功率)可以被表示为kT/C。之后,学习到开关电容采样电路采样得到的噪声功率也为kT/C。然而,需要注意的是,两者虽然在数值上相等,但得到该数值的过程却大不相同。开关电容采样电路在开关闭合时自然是一个一阶RC网络,但当其被采样时,必然存在着频谱的搬移过程,最终得到的采样后的热噪声,其实是频谱搬移后的结果。简而言之:
一阶RC kT/C是一个连续时间工作的热噪声;开关电容采样 kT/C是一个离散的,对RC网络热噪声进行一系列采样,频谱搬移后形成的热噪声;后者是前者采样后的结果。那么问题来了:
后者是经过前者怎样的过程得到的?为何两者数值相等?首先我们定义一个重要概念,噪声的等效带宽BWn。EEE598中对其定义如下图所示:
等效带宽的引入是为了将噪声的频谱图简化为一个更规则的长方形,这样我们在进行频谱搬移时可以更为方便地进行计算。
其次,我们需要明确,在开关电容采样时,采样频率fs<<BWn,这是因为,为了采样时输入信号可以在采样电容上充分建立,开关电容的时间常数是远小于采样时间的。
在上述情况下,采样会导致噪声在±fs的正数倍处出现交叠,如下图所示:
噪声被采样时频谱搬移图
将上图所有的频谱进行合并,可得到下图:
噪声被采样后噪声交叠情况
在fs内,交叠的噪声的个数为式(1):
原本RC网络热噪声的谱密度为式(2);
噪声采样交叠后的谱密度为式(3):
那么,在Nyquist带宽fs/2内,积分噪声为式(4):
从式(4)可以看出:
采样后Nyquist带宽内的积分噪声值也为kT/C,但和RC网络的kT/C噪声由来不同,仅仅是数值的相等;最终的积分噪声值和fs,BWn没有关系;采样后噪声的谱密度和fs成反比。过采样为什么可以降低热噪声
那么如何理解过采样可以降低带内噪声呢?本文通过下述两种方式理解:
根据式(4)可知,采样后fs/2内的积分噪声值和fs和BWn没有关系,恒定为kT/C。在过采样时,提高过采样率也就是提高fs不会改变总的积分噪声值,但由于热噪声是白噪声,噪声在各个频率上均匀分布,因此提高fs使得噪声的谱密度减小,fs提高N倍对应噪声谱密度减小N倍,由于信号带宽fb是恒定的,因此带宽内的积分噪声减小N倍。根据式(3)可知,采样后的噪声谱密度和fs成反比,因此fs提高N倍对应噪声谱密度减小N倍(可以理解为相同的BWn下,更大的fs让交叠的噪声数目减小),由于信号带宽fb是恒定的,因此带宽内的积分噪声减小N倍。上述两种理解方式其实是殊途同归,前者基于fs/2内积分噪声恒定为kT/C,即式(4)出发,后者直接基于从采样后噪声混叠形成的噪声谱密度,即式(3)出发,但最终都可得到相同的结论。
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