IC的四种ESD测试方法

IC的ESD测试方法

主要有四种ESD测试组合：

一.输入/输出 pin相对于VDD/VSS测试。

注解：

（1）所有输入/输出PAD相对于地的正向ESD脉冲测试。

（2）所有输入/输出PAD相对于地的负向ESD脉冲测试。

（3）所有输入/输出PAD相对于电源的正向ESD脉冲测试。

（4）所有输入/输出PAD相对于电源的负向ESD脉冲测试。

二. Pin to Pin ESD测试

注解：

（1）每一个输入/输出相对于其他所有的输入/输出的正向ESD脉冲测试。

（2）每一个输入/输出相对于其他所有的输入/输出的负向ESD脉冲测试。

三. VDD to VSS ESD测试

注解：

（1）正的ESD电压出现在VDD脚，此时VSS脚接地，但所有I/O脚皆悬空。

（2）负的ESD电压出现在VDD脚，此时VSS脚接地，但所有I/O脚皆悬空。

四. Analog Pin ESD测试

在模拟IC内常有差动输入级（Differential Pair）。如OP的差动输入级的正负输入端连接到IC的Pin时，这两支输入脚要另外单独做R电放电测试，以验证该两支输入脚所连接的差动输入级会不会被静电放电所破坏。

注解：

（1）正的ESD电压出现在差动输入级的正输入脚位，此时差动输入级的负输入脚接地，其他所有I/O脚以及VDD，VSS脚皆悬空。

（2）负的ESD电压出现在差动输入级的正输入脚位，此时差动输入级的负输入脚接地，其他所有I/O脚以及VDD，VSS脚皆悬空